市面上常见的材料成分厚度测试的方法有：金相显微镜法、库伦法、磁性法、电涡流法、X光射线法等。这些方法都有自己的特点和优势。金相显微镜法耗费时间长和库伦法一样都属于破坏性测试，磁性法和电涡流法的应用范围窄，那X光射线法有什么特点呢?今天就跟着X射线荧光光谱测厚仪生产厂家一六仪器的小编来说一说吧。
X光射线法的测试原理：X射线射到电镀层表面，产生X射线荧光，根据荧光谱线元素能量位置及其强度确定镀层组成及厚度。
应用特点：精确，测量镀层范围广，能解决细微面积及超薄镀层的测量。不但能快捷广泛测量膜厚，还能分析成分。
这种膜厚测试的方法相较于前两种来说更好。很多企业在选择X射线荧光光谱测厚仪的时候都是一头雾水，市面上品牌太多，无从下手。其实我们在选择X射线荧光光谱测厚仪的时候只要综合这几个方面进行考量就可以了。一是产品质量。这个我们可以进行实地考察，看看设备测试的情况，了解一下设备的配置和技术优势等。还可以询问买过的朋友，看看使用效果如何;二是价格。价格是我们一定会考虑的一个因素，其中可能会涉及到设备的配置、应用范围、可测量的范围等等。我们根据自己的需求，选择合适的即可;三是售后服务，任何设备都不可能一直用到坏，我们是一定会进行维修的，那生产厂家的售后服务如果到位会给我们后期的使用，带来很多的便利。
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